Hsiuping University of Science and Technology Institutional Repository : Item 310993100/5003
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 4343/7642
造访人次 : 4246572      在线人数 : 26
RC Version 3.2 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 进阶搜寻

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.hust.edu.tw/dspace/handle/310993100/5003

Title: 退火效應對於高敏度異質結構紫外光檢測器特性之影響
Authors: 林燕柏;潘逸庭;吳榮華;李卿任
Contributors: 修平科技大學電子工程系
Keywords: 氧化鋅(Zinc Oxide, ZnO)
Date: 2015-12
Issue Date: 2016-05-14T08:07:45Z
Abstract: "氧化鋅(Zinc Oxide, ZnO)擁有直接寬能隙約(3.436eV)的光電半體材料,
具有容易蝕刻、鋅礦資源豐富、製作成本低、無毒、熱穩定與化學穩定性
都相當良好等優點。
本專題製作的內容是探討氧化鋅薄膜在500o C、600o C、700o C 溫度下,
其退火效應對於異質結構光檢測器特性之影響。
此次研究使用溶膠凝膠法製作氧化鋅溶液,接著於p-type 的Si 基板與
玻璃上,利用旋轉塗佈法,固定旋塗6 層膜厚,再分別以高溫爐500oC、600oC、
700oC 之溫度燒結退火。"
Appears in Collections:[電子工程系] 學生專題

Files in This Item:

There are no files associated with this item.

All items in HUSTIR are protected by copyright, with all rights reserved.

 


DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback