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題名: FTIR量測比較氧化生長法之二氧化矽薄膜矽-氧-矽鍵結均勻性定性分析SiO2/Si界面層結構
作者: 蔡震寰;張毅;陳培中;廖志雄;王弘宗;曾昆福
日期: 1997
上傳時間: 2009-01-15T09:32:10Z
關聯: 中正嶺學報 26, 48
顯示於類別:[能源與材料科技系] 期刊論文

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