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[能源與材料科技系] 期刊論文 1997 FTIR量測比較氧化生長法之二氧化矽薄膜矽-氧-矽鍵結均勻性定性分析SiO2/Si界面層結構 蔡震寰; 張毅; 陳培中; 廖志雄; 王弘宗; 曾昆福

 

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